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4-Megabit-Chip-Fertigung, <>

DTXT_TITLE: 4-Megabit-Chip-Fertigung, Chiptest (1989)
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BESCHREIBUNG: Beim dargestellten Funktionstest eines 4-Megabit-Speicherchips kontaktieren feinste Nadeln die Signalpunkte des Chips, um in kürzester Zeit alle 4.194.304 Speicherzellen zu überprüfen. Der Tester ist eine IBM eigene Entwicklung. Der Logikteil ist zum größten Teil mit speziellen, eigenentwickelten sehr schnellen Logik-Chips in IBM Technologie realisiert. Das System kalibriert sich automatisch, wobei sowohl DC-Werte (Spannungen und Ströme) als auch AC-Werte (Pulsflanken, Pulsdauer und zeitliche Relation der Pulse zueinander) hochgenau eingstellt werden. Beim Wafertest können bis zu 4 Chips gleichzeitig getestet, die Daten ausgewertet und zum Host-Rechner übertragen werden. (IBM Pressefoto 07/1989)
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FARBE: farbig
RUBRIK: Forschung Technologie Fertigung
PRODUKTFAMILIE: Microelectronics
PRODUKT: 4-Megabit-Speicherchip
BILDART: Sachaufnahme
STICHWORTE: Test, Chip
FORMAT: Quadratisch
ORIGINAL: Dia
BILDRECHTE: IBM
EINGABE: Dentz
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