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Rastertunnelmikroskop-Aufnahme  <>

DTXT_TITLE: Rastertunnelmikroskop-Aufnahme (1991)
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BESCHREIBUNG: Sogenannte Schraubenversetzungen in Strukturen von Supraleiter-Dünnfilmen können deren Stromtragefähigkeit entscheidend beeinflussen. Die Aufnahme mit dem Rastertunnelmikroskop das erstmals solche Bilder ermöglichte, zeigt einen Bereich von 701.001.000stel Millimetern Seitenlänge. (Foto IBM Forschungslaboratorium Zürich, 1991)
BU:
IBM_NUMMER: 01779
FARBE: farbig
RUBRIK: Forschung Technologie Fertigung
BILDART: Makroaufnahme
STICHWORTE: IBM Research, Rüschlikon,Scanning tunneling microscope, STM, Raster-Tunnel, RTM
FORMAT: Quadratisch
ORIGINAL: Digital
BILDRECHTE: IBM
EINGABE: Häßler
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