Bildergalerie: Description 50869177 in Directory 32

Nanotechnologie:  <>

DTXT_TITLE: Nanotechnologie: IBM Forscher messen Kraft zur Bewegung von Atomen (2008)
DOC_TYPE: Image
ARCHIV: 1000
FIL_ID: 50869177
FIL_ORG: 88467.jpg
FIL_EXT: jpg
FIL_WIDTH: 1800
FIL_HEIGHT: 1350
FIL_RES: 300
FIL_SIZE: 519352
FIL_COLOR: RGB
FIL_ROTATE:
FIL_CLIP:
FIL_CROP:
FIL_IMG:
FIL_PATH:
DOC_SPERRVERMERK:
DOC_INPUT: 29-02-2008 15:26:55
DOC_UPDATE: 03-03-2008 12:56:11
DOC_STATUS: 1
DOC_KATALOG: 1
DOC_SPERR: 1
BESCHREIBUNG: IBM Forscher messen erstmals die Kraft, die ein Atom bewegt. Nanokonstruktionen eröffnen neue Perspektiven für die Zukunft der Informationstechnologie. San Jose, USA, 22. Februar 2008 Ö Wissenschaftlern von IBM und der Universität Regensburg ist es erstmals gelungen, die exakte Kraft zu messen, die benötigt wird, um ein einzelnes Atom auf einer Oberfläche zu bewegen. Damit haben die Forscher einen wissenschaftlichen Durchbruch erzielt, der wichtige Erkenntnisse für die Entwicklung von Nanobauelementen und Nanoelektronik liefert Ö etwa für künftige Computerchips oder miniaturisierte Speicher. Vor fast genau 20 Jahren gelang IBM Fellow Don Eigler in seinem kleinen High-Tech-Labor am IBM Almaden Research Center in Kalifornien der entscheidende Schritt in der Konstruktion von Nanostrukturen. Am 29. September 1989 demonstrierte er erstmals die gezielte Manipulation einzelner Atome mit atomarer Präzision: Er bildete aus 35 Xenon-Atomen die Buchstaben ÄI-B-M'. Das Ereignis war eine Sensation und ging als ÄKittyhawk der Nanotechnologie' in die Geschichte der Physik ein, in Anlehnung an den legendären ersten Flug der Gebrüder Wright. Jetzt hat im gleichen Labor eine neue Generation von Wissenschaftlern zusammen mit Kollegen der Universität Regensburg die außergewöhnliche Leistung vollbracht, die verschwindend geringen Kräfte zu messen, die es braucht, um Atome auf Oberflächen zu bewegen. Die Resultate wurden am 22. Februar 2008 im renommierten Wissenschaftsjournal Science veröffentlicht. Im Bild: Spitze des Rasterkraftmikroskops AFM (The AFM uses a sharp tip mounted on a flexible beam Ö akin to a tiny diving board Ö to measure the interaction between the tip and the atoms on a surface. In the present work, the flexible beam was actually a miniature quartz tuning fork of the type commonly found in clocks and wrist watches. When the tip is positioned close to an atom on the surface, the frequency of the tuning fork changes slightly. The frequency change can be analyzed to determine the force exerted on the atom.)
BU:
RUBRIK: Forschung Technologie Fertigung
PRODUKTFAMILIE: Sonstiges
BILDART: Makroaufnahme
STICHWORTE: AFM, Atomic Force Microscope, Rasterkraftmikroskop, Nanotechnologie, Atome, Rastertunnel, Rastertunnelmikroskop, RTM, Nanotechnologie, Atome, Rastertunnel, Rastertunnelmikroskop, RTM
IBM_NUMMER: 88467
FARBE: farbig
FORMAT: Quer
ORIGINAL: Digital
BILDRECHTE: IBM
BILDQUELLE: IBM Pressroom USA - Photo Gallery (21.02.2008)
EINGABE: Dentz
EXPORTPATH: 32/images/50869177.jpg
      Zum Vergrößern auf das Bild klicken