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Nanotechnologie:  <>

DTXT_TITLE: Nanotechnologie: IBM Forscher messen Kraft zur Bewegung von Atomen - Energielandschaft (2008)
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BESCHREIBUNG: IBM Forscher messen erstmals die Kraft, die ein Atom bewegt. Nanokonstruktionen eröffnen neue Perspektiven für die Zukunft der Informationstechnologie. San Jose, USA, 22. Februar 2008 Ö Wissenschaftlern von IBM und der Universität Regensburg ist es erstmals gelungen, die exakte Kraft zu messen, die benötigt wird, um ein einzelnes Atom auf einer Oberfläche zu bewegen. Damit haben die Forscher einen wissenschaftlichen Durchbruch erzielt, der wichtige Erkenntnisse für die Entwicklung von Nanobauelementen und Nanoelektronik liefert Ö etwa für künftige Computerchips oder miniaturisierte Speicher. Vor fast genau 20 Jahren gelang IBM Fellow Don Eigler in seinem kleinen High-Tech-Labor am IBM Almaden Research Center in Kalifornien der entscheidende Schritt in der Konstruktion von Nanostrukturen. Am 29. September 1989 demonstrierte er erstmals die gezielte Manipulation einzelner Atome mit atomarer Präzision: Er bildete aus 35 Xenon-Atomen die Buchstaben ÄI-B-M'. Das Ereignis war eine Sensation und ging als ÄKittyhawk der Nanotechnologie' in die Geschichte der Physik ein, in Anlehnung an den legendären ersten Flug der Gebrüder Wright. Jetzt hat im gleichen Labor eine neue Generation von Wissenschaftlern zusammen mit Kollegen der Universität Regensburg die außergewöhnliche Leistung vollbracht, die verschwindend geringen Kräfte zu messen, die es braucht, um Atome auf Oberflächen zu bewegen. Die Resultate wurden am 22. Februar 2008 im renommierten Wissenschaftsjournal Science veröffentlicht. Im Bild: Kräfte, die auf die Spitze eines Rasterkraftmikroskops, dem Atomic Force Microscope, AFM, einwirken - Karbonmonoxidmonoküle auf einer Kupferoberfläche (The measured energy landscape when dragging a carbon monoxide molecule over a copper surface (Cu(111)). The arrows show the forces that are acting on the AFM tip as it manipulates the molecules.)
BU:
RUBRIK: Forschung Technologie Fertigung
PRODUKTFAMILIE: Sonstiges
BILDART: Schmuckfoto
STICHWORTE: AFM, Atomic Force Microscope, Rasterkraftmikroskop, Nanotechnologie, Atome, Rastertunnel, Rastertunnelmikroskop, RTM
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FARBE: farbig
FORMAT: Quer
ORIGINAL: Digital
BILDRECHTE: IBM
BILDQUELLE: IBM Pressroom USA - Photo Gallery (21.02.2008)
EINGABE: Dentz
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