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Nanotechnologie:  <>

DTXT_TITLE: Nanotechnologie: IBM Forscher messen Kraft zur Bewegung von Atomen - mit einer Miniatur-Stimmgabel (2008)
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BESCHREIBUNG: IBM Forscher messen erstmals die Kraft, die ein Atom bewegt. Nanokonstruktionen eröffnen neue Perspektiven für die Zukunft der Informationstechnologie. San Jose, USA, 22. Februar 2008 Ö Wissenschaftlern von IBM und der Universität Regensburg ist es erstmals gelungen, die exakte Kraft zu messen, die benötigt wird, um ein einzelnes Atom auf einer Oberfläche zu bewegen. Damit haben die Forscher einen wissenschaftlichen Durchbruch erzielt, der wichtige Erkenntnisse für die Entwicklung von Nanobauelementen und Nanoelektronik liefert Ö etwa für künftige Computerchips oder miniaturisierte Speicher. Vor fast genau 20 Jahren gelang IBM Fellow Don Eigler in seinem kleinen High-Tech-Labor am IBM Almaden Research Center in Kalifornien der entscheidende Schritt in der Konstruktion von Nanostrukturen. Am 29. September 1989 demonstrierte er erstmals die gezielte Manipulation einzelner Atome mit atomarer Präzision: Er bildete aus 35 Xenon-Atomen die Buchstaben ÄI-B-M'. Das Ereignis war eine Sensation und ging als ÄKittyhawk der Nanotechnologie' in die Geschichte der Physik ein, in Anlehnung an den legendären ersten Flug der Gebrüder Wright. Jetzt hat im gleichen Labor eine neue Generation von Wissenschaftlern zusammen mit Kollegen der Universität Regensburg die außergewöhnliche Leistung vollbracht, die verschwindend geringen Kräfte zu messen, die es braucht, um Atome auf Oberflächen zu bewegen. Die Resultate wurden am 22. Februar 2008 im renommierten Wissenschaftsjournal Science veröffentlicht. Im Bild: Die Miniatur-"Stimmgabel" im Rasterkraftmikroskop (The miniature "tuning fork" inside the AFM used in this IBM Research work. The tuning fork measures the interaction between the tip of the microscope and the atoms on a surface; when the tip is positioned close to an atom on the surface, the frequency of the tuning fork changes slightly. The frequency change can be analyzed to determine the force exerted on the atom. Approximate size of the view: 1.7 cm (0.7") x 2.5 cm (1").)
BU:
RUBRIK: Forschung Technologie Fertigung
PRODUKTFAMILIE: Sonstiges
BILDART: Sachaufnahme
STICHWORTE: AFM, Atomic Force Microscope, Rasterkraftmikroskop, Nanotechnologie, Atome, Rastertunnel, Rastertunnelmikroskop, RTM
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FARBE: farbig
FORMAT: Quer
ORIGINAL: Digital
BILDRECHTE: IBM
BILDQUELLE: IBM Pressroom USA - Photo Gallery (21.02.2008)
EINGABE: Dentz
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